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Microscopio electrónico de barrido SEM de sobremesa – EM40AXN – COXEM

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Descripción del Producto

• Microscopio electrónico de barrido MEB de mesada.
• Permite aplicaciones más avanzadas y de mayor robustez, permitiendo aumento de hasta 250,000x que integra la nueva plataforma intuitiva nanostation 5.0 y que permite ahora movimiento automático en el eje Z.
• Voltaje de aceleración programable hasta 30 KeV, lo que le otorga gran potencia en la generación de imágenes.
• Ideal para rugosidad como para topografía y estudios de porosidad y grietas.
• Sistema dual que integra tanto un Detector Secundario SE como un Detector para Retrodispersados. Integra detector de Energía Dispersiva EDS lo que lo dota de la capacidad de análisis químico con gran precisión y exactitud.
• Permite análisis tanto puntual como de superficie.
• Funciones automáticas de enfoque, revisión de status del filamento y brillo/contraste.
• Peso 95 kilogramos.
• Plataforma motorizada de cámara grande con capacidad rotatoria.
• Una inversión elegante con la mejor Relación Costo/Beneficio del mercado.
• Permite integrar fuentes de disparo de electrones tanto de Tungsteno (w) como CeB6 (hexaboruro de cerio de alto brillo)